final wafer test

基本解释

• [材料科學]晶圓後耑測試

英汉例句

雙語例句

• Internal and outsource wafer sort/ final test support, abnormal yield analysis.
  中測、測生産線支持，成品率異常分析。
• In the last two years, Electroglas has made major new technology introductions for 200mm and 300mm wafer probing and final test handling.
  在過去的兩年中，伊智主要爲200mm和300mm晶圓探針台和封裝測試処理引入了新的技術。
  www.compotech.com.cn

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词组短语

短語

• Wafer Level Final Test 晶圓級測試

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专业释义

材料科學

• 晶圓後耑測試